ZEISS Xradia 510 Versa- fournisseurs mondiaux

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ZEISS Xradia 510 Versa

Polyvalence même sur de grandes distances de travail - millimètres à pouces de la source lumineuse atteignez de nouveaux niveaux de découverte avec le

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Polyvalence même sur de grandes distances de travail - millimètres à pouces de la source lumineuse

Atteignez de nouveaux niveaux de découverte avec le microscope à rayons X zeissxradia510versa3d (xrm), la première solution in situ / 4D du secteur. Notre fonction unique Raad (Remote resolution) brise la barrière de résolution d'un micron pour les échantillons millimétriques à Centimétriques.

L'instrument combine parfaitement une résolution et un contraste de classe mondiale avec des distances de travail flexibles pour étendre les capacités d'imagerie sans perte en laboratoire.

Avantages:

L'architecture xradiaversa utilise une technologie d'amplification à deux niveaux qui vous permet d'atteindre une résolution unique à distance (Raad). Dans un premier temps, l'image de l'échantillon est agrandie par un grossissement géométrique, comme dans un microct classique. Dans une deuxième phase, le scintillateur convertit les rayons X en lumière visible qui est ensuite amplifiée optiquement. La dépendance réduite au grossissement géométrique permet aux instruments xradiaversa de maintenir une résolution submicronique sur de grandes distances de travail. Cela vous permet d'étudier efficacement la plus large gamme de tailles d'échantillons, y compris à l'intérieur in situ. En outre, diverses fonctionnalités optionnelles étendent les avantages de l'architecture de base du système.

Retenir et étendre l'utilisation d'échantillons précieux avec l'imagerie 3D non destructive

Utilisez la conception unique du microscope versa pour obtenir la résolution la plus élevée à une distance de travail maximale de la source lumineuse, une condition préalable pour l'imagerie in situ et de grands échantillons

Imagerie à l'échelle de la longueur d'onde du même échantillon avec une large gamme de grossissements, une résolution spatiale réelle < 0,7 µm et une taille de Voxel inférieure à 70 nm.

Fonctions 4D et de terrain de pointe prenant en charge une variété de foreuses de terrain pour l'imagerie submicronique d'échantillons de taille réelle (mm à pouces), pesant jusqu'à 25 kg et mesurant jusqu'à 300 mm

Architecture d'amplification à deux étages unique pour une navigation facile grâce à plusieurs systèmes de détection d'amplification, fonctionnement continu par tomographie multipoint automatique et balayage répété, et reconstruction à grande vitesse

Absorption avancée et doublure de phase pour les matériaux à faible Z et les tissus mous

Scout-and-Scan ™ Système de contrôle, configuration de flux de travail facile à utiliser, idéal pour les environnements Multi - utilisateurs

Résolution spatiale submicronique réelle de la source au millimètre en pouces:

Maximisant l'efficacité de la microscopie à rayons X (xrm), le xradia510versa permet une imagerie 3D flexible dans divers environnements de recherche. La résolution spatiale réelle du xradia510versa est supérieure à 0,7 μm et la taille de Voxel réalisable est inférieure à 70 nm. Découvrez la polyvalence des matériaux souples ou à faible Z grâce à un contraste d'absorption avancé et à un contraste de phase innovant, surmontant les limites de la tomographie informatique traditionnelle.

Atteindre des performances qui vont au - delà du micro - CT et étendre la recherche scientifique au - delà des limites des systèmes à tablettes. La Tomographie traditionnelle repose sur un seul étage de grossissement et l'instrument xradiaversa utilise un processus unique en deux étapes basé sur une optique Synchrotron - calibre dont le système de détection est optimisé pour la résolution, le contraste et la haute résolution à de grandes distances de travail. Avec la résolution Zeiss longue distance (Raad), vous pouvez réaliser des explorations en laboratoire sans précédent pour un large éventail d'applications et de types d'échantillons.

Les rayons X non destructifs et la fonction de zoom flexible vous permettent d'imager le même échantillon à divers grossissements. En tant que première solution 4D / in situ de l'industrie, xradiaversa vous permet de caractériser de manière unique la microstructure d'un matériau dans un environnement natif et d'étudier l'évolution des performances au fil du temps. Le kit versa in situ en option vous permet d'optimiser les paramètres, de simplifier les opérations et de fournir des temps de résultats plus rapides, d'organiser les installations qui prennent en charge les foreuses sur site, telles que le câblage et la plomberie, pour des performances d'imagerie maximales et une facilité d'utilisation.

En outre, le système de contrôle scout et Scan permet un environnement de flux de travail efficace grâce à une configuration basée sur la formulation, ce qui rend le xradia510versa facile à utiliser pour les utilisateurs de tous niveaux d'expérience.

Préparation minimale des échantillons requise

Versainsitukit en option organise les installations qui prennent en charge les salles environnementales telles que le câblage et la plomberie pour des performances d'imagerie optimales et une configuration simplifiée

L'option autoloader vous permet de programmer et d'exécuter jusqu'à 14 échantillons à la fois, maximisant ainsi la productivité et permettant un flux de travail automatisé pour la numérisation haute capacité.

Machine de mesure tricoordonnée sélectionnable

Machine de mesure à trois coordonnées de type pont

Plateforme de mesure à balayage Zeiss Spectrum

ZEISS PRISMO

ZEISS ACCURA

Zeiss micura petite taille * précision

Zeiss contura compacte

ZEISS XENOS

Zeiss Spectrum mobile

Zeiss micura mobile

ZEISS CONTURA

ZEISS PRISMO

ZEISS CONTURAZEISS ACCURA

Composite trois coordonnées

ZEISS O-INSPECT322

ZEISS O-INSPECT543

ZEISS O-INSPECT863

Grande machine de mesure à trois coordonnées de haute précision de type portique

ZEISS MMZ G

ZEISS MMZ M

ZEISS MMZ T

Production de machines de mesure à trois coordonnées

ZEISS CenterMax

ZEISS GageMax

ZEISS DuraMax

Machine de mesure tricoordonnée en porte - à - faux

ZEISS CALENO

ZEISS PRO/PRO T

ZEISS CARMET

Machine de mesure de tomodensitométrie par ordinateur

ZEISS METROTOM 6 scout

ZEISS Xradia610 & 620 Versa

ZEISS Xradia 800 Ultra

ZEISS Xradia 810 Ultra

ZEISS Xradia Context microCT

ZEISS Xradia 410 Versa

ZEISS Xradia 510 Versa

Zeiss sre maxx armoire de protection contre les rayons

ZEISS METROTOM 800

ZEISS METROTOM 1500

Procédures de contrôle et d'inspection des processus de production

ZEISS VoluMax

ZEISS SurfMax

Robots de mesure en ligne

Station de mesure hybride

Station robotique hors ligne

Station de mesure et d'inspection 2D

Guidage par robot

Solutions de mesure Zeiss

Wittmann

Nidec Motors

Henschel

GRASS

Cummins

LT Ultra

SABS

Xiongbang moulage sous pression

Volkswagen

Bosch

IAC

Agusta Westland

Andrew Tool

Jamco Aeropspace

Three-M Tool

Moventas

Pietro Rosa

PMT India

Rochester Precision Optics

Schwan Cosmetics

Agfa Healthcare

CardioBridge

MeadWestvaco

Braun

starlim//sterner

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