Introduction au produit

● caractérisation de spot in situ du chemin optique paraaxial

● spectromètre et analyseur de faisceau

● Couverture de longueur d'onde de 10 ~ 80nm

● intégration rapide et facile

● appareil multifonctionnel compact

Pour l'échantillonnage périodique in situ du faisceau XUV, nanolight est un instrument de caractérisation complet. Le nanolight rassemble les fonctions d'un spectromètre XUV et d'un analyseur de faisceau XUV en un seul, ce qui permet de récupérer complètement le contournement du faisceau. La commutation entre les différents modes de fonctionnement peut être effectuée rapidement et automatiquement.

Avec sa structure compacte de 16x17cm², nanolight est la solution idéale pour les petites installations expérimentales.

Nanolight peut enregistrer simultanément une très large gamme de longueurs d'onde de 10 à 80 nm et sa cellule d'insertion de filtre permet la sélection et l'étalonnage avec des filtres métalliques.

Jusqu'à 20% d'efficacité de réseau à spectre complet et un détecteur MCP réglable en sensibilité permettent au spectromètre d'avoir une grande plage dynamique.

Une version personnalisée de nanolight dans la cavité est disponible!

　　Paramètres techniques:

Efficacité du réseau:

Application

Source harmonique élevée

Science de l'attoseconde

Interaction laser et matière forte

Laser électronique libre