Le X-METLe spectromètre portatif à fluorescence X 5100 garantit la précision de l'analyse de qualité en laboratoire des alliages d'aluminium et de titane, sa sensibilité à la détection des éléments métalliques légers contenus dans des matériaux métalliques tels que le cuivre, le nickel et l'acier est également inégalée, et les mesures des éléments légers tels que le magnésium, L'aluminium et le silicium peuvent être effectuées sans l'aide d'accessoires tels que des pompes à vide sophistiquées ou des réservoirs d'hélium. Une combinaison puissante de détecteurs de dérive de silicium (SDD), de tubes à rayons X de 45 kV et de méthodes d'analyse par coefficient empirique signifie queLe X-METLe 5100 peut analyser et déterminer avec précision la composition des alliages métalliques en seulement 1 seconde. Les substances confinées (métaux lourds), le plomb dans les jouets, les contaminants dans le sol et les traces dans les minerais peuvent être mesurés avec précision à une vitesse qui était auparavant impossible. En quelques secondes, on obtient des résultats de détection d'éléments traces de l'ordre du PPM.

Cet outil de test robuste et portable XRF Light elements est conçu pour les applications industrielles suivantes:

• Qualification de fiabilité des matériaux métalliques (PMI)
• Industrie du recyclage des déchets métalliques
• Surveillance environnementale des métaux lourds (sol et ROHS)
• Industrie aéronautique et automobile
• Reconnaissance du minerai, contrôle de l'excavation sur place et cartographie de la mine