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Ft110a | mesureur d'épaisseur de placage XRF de bureau
Le ft110a est un analyseur XRF de bureau conçu pour relever les défis de l'analyse de revêtement en production
Détails du produit

Présentation du produit

Le FT110AEst un DesktopXRFAnalyseur, conçu pour relever les défis de l'analyse de revêtement en production. PuissantXLa technologie de fluorescence par rayons, combinée à la fonction de positionnement automatique, contribue à augmenter la productivité de l'atelier de placage tout en garantissant que les composants répondent à des normes élevées.

Précision et fiabilité soutiennent le contrôle de la qualitéXRFAu cœur de l’analyse, etLe FT110ALa précision requise pour les composants galvaniques d'aujourd'hui est disponible. Un système d'imagerie mis à jour, un positionnement automatique des échantillons et un grand banc d'échantillons rendent cet analyseur très facile à utiliser, améliorant le flux et réduisant les erreurs humaines. PuissantLe FT110ACapable de mesurer jusqu'à quatre couches simultanément, ainsi que des substrats, votre installation sera prise en charge 24h / 24 et 7j / 7 pour répondre aux spécifications de placage les plus élevées de l'industrie.

Caractéristiques du produit

Conçu pour la production à haut débit, voirLe FT110AComment soutenir votre contrôle de qualité.

Technologie haute sensibilité puissante pour des résultats en quelques secondes

Essais non destructifs pour la sécurité des produits finis

Fonctions automatisées pour une productivité accrue

Analyse jusqu'à quatre couches et substrats, plus le liquide de placage

Facile à utiliser pour les opérateurs non professionnels

Méthode de mesure conformeISO 3497Et,norme ASTM B568etnorme DIN 50987

Grande cabine à échantillons pouvant contenir divers échantillons

Options personnalisables pour s'adapter à votre application


Paramètres techniques

Le FT110A

Gamme d'éléments

Ti-U

Le détecteur

Système de compteur proportionnel

Conception de la cabine d'échantillon

Ouvert et fermé ou fente

Nombre de collimateurs

2 ou4

Collimateur minimum

0,025 x 0,4 mm

XYSélection de la table d'échantillons axis

Programmé ou fixe

XYVoyage de la table d'échantillon d'axe

250 x 200 mm

Contrôle du programmeZVoyage d'axe

150 mm

Taille maximale de l'échantillon

500 x 400 x 150 mm

Focalisation des échantillons

Focus laser et autofocus en option

Vue de l'échantillon

Vue de la caméra et deuxième caméra grand angle en option

Identification des points de mesure

Facultatif

logiciel

Station de rayons X

Enquête en ligne
  • Contacts
  • Société
  • Téléphone
  • Courriel
  • sur WeChat
  • Code de vérification
  • Contenu du message

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