Microscope métallographique LeicaDM12000MEn utilisant le principe optique, l'échantillon testé est placé sur une plate - forme d'observation dans un microscope qui, en réfléchissant ou en transmettant des rayons lumineux, agrandit l'image de l'échantillon dans l'oculaire du microscope. Sous les propriétés de diffusion et d'absorption de la lumière par l'échantillon, le phénomène d'image de l'échantillon au moment de l'imagerie change constamment avec les paramètres. L'observateur peut juger de la microstructure et de l'Organisation de l'échantillon en fonction de ce changement.

Dm12000m Leica microscope métallographique caractéristiques:

I. la toute nouvelle conception optique, qui peut fournir le test initial rapide en mode macro ainsi que la fonction de chemin optique UV incliné (vue, mode d'observation UV incliné), non seulement améliore la résolution, mais augmente également la capacité d'inspection des plaquettes de silicium de 12 pouces (300 mm). La nouvelle technologie d'éclairage LED est conçue et intégrée au microscope, avec un faible rayonnement thermique et une technologie intégrée dans le fuselage assurant un état idéal de flux d'air hors du fuselage.

Le microscope métallographique Leica dm12000m améliore l'efficacité de l'inspection lorsqu'il raccourcit l'utilisation de l'inspection, l'accessoire autofocus pour l'éclairage d'inspection à lumière transmise peut s'adapter à tous les modes d'observation de l'éclairage à lumière réfléchie, y compris le champ sombre et l'observation interférentielle différentielle. Obtenez une mise au point automatique rapide et précise et trouvez la surface focale avec précision en temps réel, même lorsque vous observez la conversion.

Trois, deux types de dispositifs d'éclairage en option, type universel et type d'ouverture numérique élevée. Pour FPD, l'inspection de la plaque Mask fournit un éclairage approprié et peut être équipée d'un miroir de renvoi pour permettre une observation polarisée facile de la lumière projetée. Contraste élevé, résolution plus élevée, examen de grossissement plus élevé mode d'observation de la fluorescence pour l'examen des résidus de colle de lithographie le module de spectroscopie de fluorescence UV Optical System peut fournir un contraste et une résolution plus élevés, jusqu'à 0,12 μm de résolution.

Iv. Il y a une variété d'options de fluorescence telles que u.b.g. pour le résidu de colle de photophore ainsi que l'inspection d'OLED. Interface de communication pratique pour le contrôle et les paramètres du grossissement du microscope et du diaphragme d'ouverture rs232c pour l'inspection interne des plaquettes ainsi que des dispositifs et même des pieds de soudure accessoires d'observation proche infrarouge sont fournis en standard avec une interface rs232c, ce qui permet de contrôler la partie motorisée du microscope avec un PC et peut être réalisé pour faire fonctionner plusieurs microscopes sur la ligne de processus dans le même état de consigne.

V. comprend un objectif infrarouge spécialisé et d'autres accessoires pour corriger les aberrations de la lumière visible à la lumière de la bande proche infrarouge pour l'inspection IC profonde ou interne, qui peut réaliser une inspection complète de Wafer Bump l'accessoire de mesure automatique de largeur de ligne CD permet une mesure de CD très précise avec la technologie de Sous - pixel.

Six. La conception d'économie d'énergie à faible consommation d'énergie prolonge considérablement la durée de vie et répond au concept de protection de l'environnement vert. La conception de manipulation en un clic permet aux utilisateurs de réaliser facilement la conversion de grossissement et les effets d'éclairage et de doublage associés.